 |
| Das Resultat einer kombinierten, dreidimensionalen ToF-SIMS-/SFM-Oberflächenanalyse einer PCBM/CyI-Polymer-Mischung. Foto: Empa |
Das Hochleistungsmikroskop 3D-NanoChemiskope kann Oberflächen nicht nur gestochen scharf bis zur atomaren Stufe abbilden, physikalisch und chemisch, es erkennt auch, was es sieht. Damit ergeben sich völlig neue Möglichkeiten für die Anwendung, das bei Industriekunden und Forschungspartner großen Anklang findet, wie die schweizerische Materialprüfungs- und Forschungsanstalt EMPA berichtet.
Simultan und dreidimensional lassen sich mit dem 3D-Nano-Chemiskope mechanische Eigenschaften wie Härte, Elastizität oder Reibungskoeffizient, aber auch chemische Eigenschaften von Oberflächenstrukturen bestimmen.
Dieses neue Mikroskop bringt ungeahnte Höchstleistung. Proben werden mit dem 3D-Nano-Chemiscope nicht nur millimetergenau abgebildet, sondern gibt sogar erstmals präzisen Informationen darüber, welche chemischen Elemente sich an welcher Stelle innerhalb der Probe angeordnet haben. Mit einer solchen Analyse können beispielsweise Solarzellen-Forscher mit hoher Effizienz die Mechanismen ihrer Materialien kontrollieren und entsprechend die Zusammensetzung oder Konzentration der Polymer-Mischung ändern. Damit lassen sich neue Strukturen und mit anderen Eigenschaften für die Solarzelle herbeiführen.
Keine Kommentare:
Kommentar veröffentlichen